Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

Le système de test de conformité RF LTE-Advanced d’Anritsu

Le banc de mesure ME7873LA est désormais numéro un mondial avec plus de 70 scénarios de tests pour les bandes de fréquence...

Publication du nouveau guide d’adoption de SPARK

Ce livret gratuit, rédigé en collaboration avec Thales, explique comment exploiter la technologie SPARK/Ada pour atteindre des niveaux élevés d’assurance logicielle...

Acsiel et WEF 2017 ? Gérard MATHERON et Gilles RIZZO à la JRE de Nantes 2017

Nicolas BRASSEAU, Ingénieur en systèmes embarqués chez West Electronic à la JRE de Nantes 2017

Sébastien ROSPIDE, Directeur Général de West Electronic à la JRE de Nantes 2017

Stéphane DUPOUX, General Manager de SEICA France et Allemagne à la JRE de Nantes 2017

Guillaume FÉRET, Technico-Commercial chez POLYTECH Instrumentation à la JRE de Nantes 2017

José Pareja, Ingénieur Commercial chez CXR à la JRE de Nantes 2017

Pierre MAGUERES, Responsable Marketing chez DIMELCO à la JRE de Nantes 2017

Analog Devices, Inc. ajoute deux références à sa série d’accéléromètres MEMS 3

En facilitant la mesure des vibrations à basse consommation, les accéléromètres MEMS d’Analog Devices permettent de superviser l’état de produits et applications sans fil...